三和メッキでは2026年5月をもちまして亜鉛めっき処理を終了させていただきます

めっきQ&A

FAQ

9034 イオンマイクロプローブ分析法

■9034 イオンマイクロプローブ分析法とは?

■9034 イオンマイクロプローブ分析法とは?

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★イオンビームを幾つかの静電レンズで縮小し、ビーム
の直径を小さくして試料に照射し、試料から放出する
イオン、X線、光又は電子を検出して、表面の元素分析
や状態分析を局所的に行うとともに、イオンで試料を
スパッタリング(3047参照)し、深さ方向の分布を調
べる方法。
略称:IMA

参考:錯乱されるイオンを検出して分光する場合は
イオン錯乱分光分析(ISS)、二次イオンを検出する場合
はイオンマイクロアナリシス(IMA)、X線を検出する場
合はイオンマイクロ励起分光分析(SCANIIR)、オー
ジェ電子を検出する場合はイオン励起オージェ電子分光
分析(IAES)という。

ion microprobe analysis

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