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FAQ
■9038 低速イオン散乱分光法とは?
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★数keV以下の低エネルギーイオンビームを物体に照射 したとき、錯乱されてくるイオンのエネルギーやイオン 数の角度分布を測定して物体の組織や構造を解析する 方法。 略称 LEIS。ISSと記することが多い。
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